探针冷热台是一种用于材料分析、半导体测试、生物实验等领域的精密设备，能够提供精确的温度控制环境，支持样品在高温或低温下的测试。
1.温度控制范围广
冷热台通常支持从极低温度到高温的宽范围温度控制。
低温可通过液氮或制冷机实现，高温通过电热丝或加热板实现。
2.高精度控温
配备先进的温控系统（如笔滨顿控制器），温度稳定性可达&辫濒耻蝉尘苍;0.1℃词&辫濒耻蝉尘苍;0.5℃。
部分型号支持程序控温，可设置多段升温/降温曲线。
3.模块化设计
冷热台通常由加热/制冷模块、样品台、探针系统、温度传感器和控制系统组成。
可根据需求选配不同功能模块（如显微镜、力加载装置等）。
4.兼容性强
支持多种探针或测试设备（如电学探针、光学探头、力学探针等）的接入。
可与显微镜、光谱仪、电流电压测试仪等设备联用。
5.样品台特性
样品台通常采用高导热材料（如铜、铝）制成，确保温度均匀性。
部分型号支持样品台旋转或倾斜，方便多角度测试。
6.防护与安全性
配备隔热罩或真空腔体，减少外界环境对温度的影响。
具备过温保护、漏电保护等功能，确保操作安全。
二、探针冷热台核心配置:
1.温度控制模块
制冷方式：液氮冷却、斯特林制冷机或半导体制冷（根据温度范围选择）。
加热方式：电热丝、加热板或红外加热。
温度传感器：铂电阻、热电偶或红外测温仪。
2.探针系统
电学探针：用于测试材料的电学性能（如电阻、电流-电压曲线）。
光学探针：用于显微观察或光谱分析（如拉曼光谱、荧光光谱）。
力学探针：用于纳米压痕、划痕测试等力学性能分析。
3.显微镜系统
可选配光学显微镜或电子显微镜，用于观察样品表面形貌。
部分型号支持显微成像与探针测试同步进行。
4.程序控温软件
支持多段升温/降温程序设置，可模拟复杂环境条件。
实时显示温度曲线、测试数据，并支持数据导出。
5.样品固定装置
提供多种样品固定方式（如磁吸、夹持、粘贴等），适应不同样品形态。
部分型号支持原位测试（如拉伸、压缩、加热过程中实时测试）。
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